鹽(yan)霧(wu)(wu)(wu)測試(shi)是(shi)一(yi)種(zhong)主要利用(yong)(yong)鹽(yan)霧(wu)(wu)(wu)試(shi)驗(yan)(yan)設備所(suo)創造(zao)的(de)人工(gong)(gong)模擬(ni)鹽(yan)霧(wu)(wu)(wu)環境(jing)條件來考核(he)產品(pin)或金屬材料(liao)耐腐蝕(shi)性(xing)能(neng)的(de)環境(jing)試(shi)驗(yan)(yan)。它(ta)分為(wei)二大類，一(yi)類為(wei)天(tian)然環境(jing)暴(bao)露試(shi)驗(yan)(yan)，另一(yi)類為(wei)人工(gong)(gong)加速模擬(ni)鹽(yan)霧(wu)(wu)(wu)環境(jing)試(shi)驗(yan)(yan)。人工(gong)(gong)模擬(ni)鹽(yan)霧(wu)(wu)(wu)環境(jing)試(shi)驗(yan)(yan)是(shi)利用(yong)(yong)一(yi)種(zhong)具有一(yi)定容(rong)積空間(jian)的(de)試(shi)驗(yan)(yan)設備——鹽(yan)霧(wu)(wu)(wu)試(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)，在(zai)其容(rong)積空間(jian)內用(yong)(yong)人工(gong)(gong)的(de)方法，造(zao)成(cheng)鹽(yan)霧(wu)(wu)(wu)環境(jing)來對(dui)產品(pin)的(de)耐鹽(yan)霧(wu)(wu)(wu)腐蝕(shi)性(xing)能(neng)質量(liang)進行(xing)考核(he)。

鹽霧腐(fu)(fu)蝕(shi)會破(po)壞(huai)金屬保(bao)護層，使它失去裝飾性(xing)，降(jiang)低機械強度；一些電(dian)(dian)子元器件(jian)(jian)和電(dian)(dian)器線路，由于(yu)腐(fu)(fu)蝕(shi)而(er)造成(cheng)電(dian)(dian)源線路中斷(duan)，特別是(shi)(shi)在(zai)(zai)有(you)振動(dong)(dong)的(de)環境中，尤為(wei)嚴重；當鹽霧降(jiang)落在(zai)(zai)絕緣體表面(mian)時，將(jiang)使表面(mian)電(dian)(dian)阻(zu)降(jiang)低；絕緣體吸收鹽溶液后，它的(de)體積電(dian)(dian)阻(zu)將(jiang)降(jiang)低四個(ge)數量級；機械部(bu)件(jian)(jian)或運動(dong)(dong)部(bu)件(jian)(jian)的(de)活動(dong)(dong)部(bu)位由于(yu)腐(fu)(fu)蝕(shi)物的(de)產(chan)生，而(er)增加了摩擦(ca)力(li)以至造成(cheng)運動(dong)(dong)部(bu)件(jian)(jian)被(bei)卡死。鹽霧腐(fu)(fu)蝕(shi)破(po)壞(huai)過程(cheng)中起主要作用的(de)是(shi)(shi)氯離子。它具(ju)有(you)很強的(de)穿(chuan)透(tou)本領，容(rong)易穿(chuan)透(tou)金屬氧化層進(jin)入金屬內(nei)部(bu)，破(po)壞(huai)金屬的(de)鈍態。同時，氯離子具(ju)有(you)很小的(de)水合能，容(rong)易被(bei)吸附(fu)在(zai)(zai)金屬表面(mian)，取代保(bao)護金屬的(de)氧化層中的(de)氧，使金屬受到破(po)壞(huai)。

鹽(yan)霧測試(shi)可以將(jiang)濃度的(de)鹽(yan)水(shui)霧化;然后噴在一個(ge)密閉的(de)恒(heng)溫箱內(nei)，通過觀(guan)察被測樣品在箱內(nei)放置(zhi)一段時間后的(de)變化來反映(ying)被測樣品的(de)抗腐蝕(shi)性，它是(shi)一種加(jia)速(su)測試(shi)方法，其鹽(yan)霧環境(jing)的(de)氯(lv)化物的(de)鹽(yan)濃度，可是(shi)一般天然環境(jing)鹽(yan)霧含量(liang)的(de)幾倍(bei)或幾十倍(bei)，使腐蝕(shi)速(su)度大幅提高，對產(chan)品進行鹽(yan)霧試(shi)驗，得出(chu)結果的(de)時間也大幅縮短